鍵盤鼠標(biāo)環(huán)境可靠性測(cè)試包括多個(gè)方面，溫濕度過(guò)高可能會(huì)出現(xiàn)鼠標(biāo)短路現(xiàn)象，溫度過(guò)低可能會(huì)出現(xiàn)靈敏度下降的問(wèn)題，以下試驗(yàn)條件可供參考。

1 高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)

A. 將樣品放置于恒溫恒濕試驗(yàn)箱里，溫度設(shè)置65±2℃，濕度93%RH，存放時(shí)間72H。

B. 測(cè)試完成，將樣品從試驗(yàn)箱取出放置于常溫下恢復(fù)2H后，測(cè)試其功能是否正常。

2. 低溫存儲(chǔ)試驗(yàn)

A. 將樣品放置于恒溫恒濕試驗(yàn)箱里，溫度設(shè)置-40℃±2℃，存放時(shí)間72H。

B. 測(cè)試完成后，將樣品從恒溫恒濕試驗(yàn)箱取出放置于常溫下恢復(fù)2H后，測(cè)試其功能是否正常。

3. 溫度沖擊試驗(yàn)

A. 將樣品放置于冷熱沖擊試驗(yàn)箱里，溫度設(shè)置-40℃±2℃，存放時(shí)間2H。

B. 在一分鐘內(nèi)將樣品置于溫度為65℃的工作室內(nèi)，存放時(shí)間2H。

C. 將上述測(cè)試循環(huán)做5次，測(cè)試完成后測(cè)試其樣品功能是否正常。

4 高溫操作試驗(yàn)

A. 將樣品放置于專用高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)，溫度設(shè)置65℃，DC 5.0V+5%,保持時(shí)間2H。

B. 測(cè)試完成將樣品置于常溫下恢復(fù)2H后測(cè)試其功能是否正常。

5.低溫操作試驗(yàn)

A. 將樣品放置于專用高低溫試驗(yàn)箱內(nèi),溫度設(shè)置-40℃, DC 5.0V±5% ,保持時(shí)間2H。

B. 測(cè)試完成將樣品置于常溫下恢復(fù)2H后測(cè)試其功能是否正常。

鼠標(biāo)的可靠性測(cè)試除了環(huán)境類，還有鼠標(biāo)的雙擊、單機(jī)速度測(cè)試等，電腦的鼠標(biāo)和鍵盤是使用最頻繁的關(guān)鍵元件，環(huán)境可靠性測(cè)試對(duì)于質(zhì)量的提升非常重要。